Haupteigenschaften
- Hoch präzises Planheitsmessen von polierten Proben bis zu lambda/10
- 3 dimensionale Abbildungs- & Auswertungskapazität
- Messung von 0.335µm pro Ring mit exzellenter Genauigkeit
- Abbildung & Analyse von Ringschemata auf Materialien von 1" bis 6"ø
Beschreibung
Das Logitech LI15 ist ein mehrstrahliges Fizeau Interferometer, das speziell für Planheitsmessungen von Proben bis zu 102mm (4") Durchmesser geeigent ist und sowohl für die Produktion optischer Komponenten, als auch in Forschungs- und Entwicklungslabore eingesetzt werden kann.
Unser Fizeau Interferometer bietet eine schnelle und akkurate Methode für die optische Messung von Oberflächenplanität und bringt den deutlichen Vorteil, dass kein Kontakt zwischen der Referenzfläche, die eine Planität von l/20 hat, und der zu testenden Oberfläche besteht.
Jedes LI15 Fizeau Interferometer bietet eine schnelle und akkurate Methode für die optische Messung der Planität von polierten Oberflächen. Die Referenzfläche hat eine Planität von lambda/10 und tritt nicht mit der zu testenden Oberfläche in Kontakt. Dies ermöglicht die Abbidung durch eine Reliefkarte, oder Interferogramm, durch die Interferenz von Reflexion zwischen den beiden Oberflächen. Im LI15 Fizeau Interferometer wird dieses Bild als ein schwarz-weißes Interferogramm auf dem 7'' schwarz-weiß CRT-Bildschirm auf der Vorderseite des Geräts abgebildet.
Analysis Software wird dann zur Herstellung einer 3-dimensionalen Graphik der Probenoberfläche eingesetzt (PC und Software mitgeliefert). Jedes Interferometer ist mit einer internen Kamera ausgestattet, um die speziell entwickelte Software mit den Bildern zu bedienen, die für die 3-dimensionale Abbildung der Probenoberfläche benötigt werden. Das LI15 Software-Package verfügt über eine komplette Serie von qualitativen Graphikfunktionen inklusive perspektivischer Darstellungen, farbiger Reliefkarten und Querschnittsprofile. Das LI15 Fizeau Interferometer zeigt automatisch an ob die Probenoberfläche konvex oder konkav ist. Interaktive echtzeit Funktionen( siehe unten) beinhalten Trnaslation, Rotation, Skalierung, stufenlose optische Formatänderung und die Darstellung von Querschnitten.

Das LI15 ist auch mit einer Anzahl unterschiedlicher Betrachtungsoptionen, wie Videoüberwachung, Weitwinkel-Teleskop und Polaroidkamera erhältlich.
Fizeau Interferometer Anwendungen
Das Logitech LI15 Fizeau Interferometer ist ideal für die Überprüfung der optischen Planität und für Planheitsmessungen von einer großen Anzahl optischer Komponenten. Es kann zum Messen der Planheit von optischen Halbleitern oder optischen Materialien eingesetzt werden, bei welchen die Planität die Grundvoraussetzung für die nachfolgende Bearbeitung ist. Das LI15 Fizeau Interferometer ist besonders nützlich, wo ein gewisser Grad an Bezugsdaten und deren Aufzeichnung benötigt wird, um den Prozess der Qualitätsbestimmung zu beschleunigen.
Produktoptionen
Das LI15 Fizeau Interferometer ist lieferbar in 240V/50-60Hz oder 110V/50-60Hz and hat folgendes optionales Zubehör:
- Vacuum Chuck
- Weitwinkel-Teleskop
- Binokulare Betrachtung
- Polaroidkamera
- Videoüberwachung 220V/50Hz
Produktspezifikation
| Stromversorgung : | 240V, 50Hz 110V, 50Hz |
| Max Probengröße : | 102mm (4")ø (5"/6"auf anderen Modellen ) |
| Blende : | 102mm (4")ø (5"/6"auf anderen Modellen) |
| Referenzflächet : | Planheit Parallelität 20 +/- 5 Bogenminute min. positiver Keil |
| Abstand zwischen Ringen : | 0.316µm |
| Illumination : | 0.5mw HeNe Laser |
| Höhe : | 346mm |
| Tiefe : | 610mm |
| Breite : | 430mm |
| Nettogewicht : | 28Kg |
Für mehr Informationen über dasLI15 Fizeau Interferometer, rufen Sie uns an unter +44 (0)1389 875444 oder füllen Sie einfach unser Kontaktformular aus.
