Haupteigenschaften
- Hochpräzises Planitätsmessungen von polierten Proben bis zu Lambda/10
- 3-dimensionale Abbildungs- und Analysefunktion
- Messung von 0,335 µm pro Rand mit hoher Auflösungt
- Abbildung und Analyse von Randmustern an Proben von 1" bis 6" ø
Beschreibung
Das Logitech LI15 ist ein mehrstrahliges Fizeau-Interferometer, das für unterschiedlichste Planitätsmessungen an Proben bis zu 102 mm (4") Durchmesser sowohl bei der Herstellung optischer Komponenten wie auch in Forschungs- und Entwicklungslaboren ideal geeignet ist.
Das Fizeau-Interferometer bietet eine schnelle und präzise Methode für die optische Messung der Oberflächenplanität. Ein großer Vorteil dieses Interferometers besteht darin, dass kein Kontakt zwischen der Referenzfläche (Lambda/20) und der zu prüfenden Oberfläche besteht.
Das Fizeau-Interferometer LI15 bietet eine schnelle und präzise Methode für die optische Planitätsmessung von polierten Oberflächen. Die Referenzfläche hat eine Planität von lambda/10 und kommt mit der zu prüfenden Oberfläche nicht in Kontakt. Dies ermöglicht die Erstellung einer Konturdarstellung (Interferogramm), die durch die Interferenz von Reflexionen zwischen diesen beiden Oberflächen entsteht. Im Fizeau-Interferometer LI15 wird dieses Bild als s/w-Interferogramm auf dem Schwarzweiß-CRT-Bildschirm an der Geräte Vorderseite dargestellt.
Zur Erstellung von 3-dimensionalen Grafiken der Oberfläche wird eine Analyse Software eingesetzt (im Lieferumfang enthalten: PC und Software). Jedes Interferometer ist mit einer internen Kamera ausgestattet, welche die Software mit Bildern versorgt., die zur 3-D Darstellung der Probenoberfläche notwendig sind. Das LI15-Softwarepaket verfügt über hochauflösende Grafikfunktionalität inklusive Perspektivdarstellungen, farbiger Konturdarstellungen und Querschnittsdarstellungen. Mit dem Fizeau-Interferometer LI15 erfolgt eine komfortable automatisch Darstellung der Probenoberfläche im Bereich konkav/ konvex. Interaktive Echtzeitfunktionen (siehe unten) beinhalten Translation, Rotation, Skalierung, Zooming und Querschnittsdarstellungen
Das LI15 ist auch mit einer Reihe unterschiedlicher Betrachtungsoptionen incl. CCTV, Weitwinkel-Teleskop und Polaroidkamera erhältlich.
Fizeau-Interferometer - Anwendungen
Das Fizeau-Interferometer LI15 von Logitech ist ideal für die Überprüfung von Planoptiken sowie der optischen Planitätsmessung an unterschiedlichsten optischen Komponenten. Es kann zum Messen der Planität polierter Halbleiter oder optischer Materialien eingesetzt werden, bei denen der Planitätsfaktor bei der nachfolgenden Verarbeitung unabdingbar ist. Das Fizeau-Interferometer LI15 ist besonders hilfreich im Bereich der Qualitätskontrolle, wo mit Hilfe der Datenerfassung auch eine Protokollierung für beschleunigte Prozesse notwendig
Produktoptionen
Das Fizeau-Interferometer LI15 ist in den Versionen 220 V, 50 Hz oder 110 V, 50 Hz erhältlich und bietet folgendes optionales Zubehör:
- Vakuumaufnahme
- Weitwinkel-Okular
- Binokular
- Polaroidkamera
- CCTV 220 V/50 Hz
Produktspezifikation
| Stromversorgung : | 240 V, 50 Hz 110 V, 50 Hz |
| Max. Probengröße : | 102 mm (4") ø (5"/6" bei anderen Modellen ) |
| Öffnung : | 102 mm (4") ø (5"/6" bei anderen Modellen) |
| Referenzfläche : | Planität  /10Parallelität 20 +/- 5 Bogenminuten positiver Keil |
| Randabstand : | 0,316 µm |
| Beleuchtung : | HeNe-Laser 0,5 mW |
| Höhe : | 346 mm |
| Tiefe : | 610 mm |
| Breite : | 430 mm |
| Nettogewicht : | 28 kg |
Für weitere Informationen über das Produkt oder Logitech füllen Sie bitte unser Kontaktformular aus. Telefonisch erreichen Sie Logitech unter +49 (0) 2154-4860 (Struers GmbH) oder +44 (0)1389 875444 (Logitech Ltd.)