Haupteigenschaften
- Hochpräzise Planitätsmessung von polierten Proben bis zu Lambda/10
- 3-dimensionale Abbildungs- und Analysekapazität
- Messung von 0,335 µm pro Ring mit hohem Kontrast
- Abbildung und Analyse von Planitätsringen bei Materialien von 1" bis 6" ø
Beschreibung
Das Logitech LI10 ist ein mehrstrahliges Fizeau-Interferometer, das für unterschiedlichste Planitätsmessvorgänge an Proben bis zu 102 mm (4") Durchmesser eingesetzt wird. Die Anwendungsbereiche sind sowohl bei der Herstellung optischer Komponenten wie auch in Laboren für Forschung und Entwicklung.
Die Logitech Fizeau-Interferometer bieten eine schnelle und präzise Methode für die optische Messung der Oberflächenplanität. Ein großer Vorteil liegt darin, dass es keinen Kontakt zwischen der Referenzfläche (Planität Lambda/20) und der zu prüfenden Oberfläche besteht. Über das Prinzip optischer Interferenzen, beruhend darauf, dass durch Interferenz von Reflexionen zwischen zwei Oberflächen, getrennt durch einen dazwischen liegenden Luftraumspalt, durch das Gerät eine Konturdarstellung (Interferogramm) produziert wird.
Das Fizeau-Interferometer LI10 ist ein manuelles Gerät und ermöglicht die Betrachtung des resultierenden Interferogramms entweder durch ein Weitwinkel-Okular (Standardausstattung) oder einem komfortablen Binokular (ideal für Dauerbetrachtung oder Brillenträger).
Mit dem Fizeau-Interferometer LI10 können die Ringabbildungen auf einfache Art als Höhenunterschied erfasst werden. Jeder „Ring“ einen Abstand von 0,316 µm im Luftspalt zwischen Probe und der Referenzfläche.
Konvexität und Konkavität werden durch vorsichtigen Fingeranpressdruck bestimmt. Man legt Zugrunde, als würde der Luftspalt geschlossen. Ränder auf dem Interferometer bewegen sich immer vom Punkt des minimalen Luftspalts (d. h. Rundheitsbereich) und umgekehrt zum maximalen Luftspalt (d. h. Hohlbereich). Da Interferometrie jegliche Abweichung von der Probenflachheit bestimmt und dafür einen gewissen Neigungsgrad zwischen der Probe und der Referenzfläche benötigt, ist es notwendig, jegliche verbleibende Nettoneigung durch visuelle Minimierung der Anzahl Ränder abzugleichen. Infolgedessen gewährleistet die Verwendung des Fizeau-Interferometers, dass die Flachheitsmessung so genau wie möglich ist.
Fizeau-Interferometer - Anwendungen
Das Fizeau-Interferometer LI10 von Logitech ist ideal für die Überprüfung der optischen Planität und für Planitätsmessungen an unterschiedlichsten optischen Komponenten. Es kann zum Messen der Flachheit polierter Halbleiter oder optischer Materialien eingesetzt werden, wo Flachheit bei der nachfolgenden Verarbeitung unerlässlich ist.
Produktoptionen
Das Fizeau-Interferometer LI10 ist in den Versionen 220 V, 50 Hz oder 110 V, 50 Hz lieferbar und hat folgendes zusätzliches Zubehör:
- Vakuumaufnahme
- Weitwinkel-Okular
- Binokular
- Digitalkamera
- CCTV 220 V/50 Hz
Produktspezifikation
| Stromversorgung : | 240 V, 50/60 Hz 110 V, 50/60 Hz |
| Max. Probengröße : | 102 mm (4") ø (5"/6" bei anderen Modellen) |
| Öffnung : | 102 mm (4") ø (5"/6" bei anderen Modellen) |
| Referenzfläche : | Flachheit Parallelität 20 +/- 5 Bogenminuten positiver Keil |
| Randabstand : | 0,316 µm |
| Beleuchtung : | HeNe-Laser 0,5 mW |
| Höhe : | 315 mm |
| Tiefe : | 320 mm |
| Breite : | 215 mm |
| Nettogewicht : | 7,6 kg |
Für weitere Informationen über das Produkt oder Logitech füllen Sie bitte unser Kontaktformular aus. Telefonisch erreichen Sie Logitech unter +49 (0) 2154-4860 (Struers GmbH) oder +44 (0)1389 875444 (Logitech Ltd.)
