Haupteigenschaften
- Hochpräzise Planitätsmessung von geschliffenen, geläppten und anpolierten Proben
- 3-dimensionale Abbildungs- und Analysekapazität
- 2µm Streifenabstand mit ausgezeichneter Klarheit
- Messung von Oberflächen mit Rauigkeitswerten von 1 nm bis 300 nm Ra
Beschreibung
Das GI30 ist ein Schräglichtinterferometer für hochpräzise Planitätsmessungen an geläppten und anpolierten Oberflächen bis zu 150 mm (6") ø.
Im Gegensatz zu herkömmlichen Fizeau-Interferometern kann das GI30 für Messungen an nicht reflektierenden Oberflächen genutzt werden und ist daher ideal für Prüfungen an geläppten und/oder geschliffenen Oberflächen vor der abschließenden Politur.
Jedes GI30 ist mit einer internen Kamera ausgestattet, um die speziell dafür entwickelte Software mit Bildern zu versorgen, die für den Aufbau einer 3-dimensionalen Abbildung der Probenoberfläche notwendig sind. Als Schräglichtinterferometer ist das GI30 imstande, die Planität von geläppten und anpolierten Oberflächen zu messen. Dieses 3D-Imaging ist von besonderem Nutzen für unterschiedlichste Anwendungen, bei denen geläppte und anpolierte Oberflächen während des Bearbeitungsprozesses zwecks Qualitätskontrolle überprüft werden müssen.
Die von Logitech entwickelte Software im GI30 ermöglicht außerdem Analysen zur Interpretation von Daten anhand von Hilfsmitteln wie z. B. Statistiken, Aberrationen, Diffraktionsanalysen, Bildverarbeitung und koordinatenbasierten geometrischen Bildtransformationen. Diese Vielfalt ist besonders nützlich bei der Verarbeitung ungenauer Daten.
Anwendungen
Anwendungen für Planitätsmesssysteme sind nahezu unbegrenzt. Ganz gleich, ob Planitätsmessungen oder Qualitätsbewertungen erforderlich sind: Schräglichtinterferometer von Logitech bieten eine ausgezeichnete Lösung bei der Bearbeitung von:
- Halbleiterwafern
- Optischen Komponenten
- Bearbeiteten Bauteilen
- Geowissenschaftlichen Proben
Das GI30 ist besonders bei automatisierten Anwendungen vorteilhaft, da Qualitätsbewertungsbewertungen beschleunigt werden können.
Produktoptionen
Das GI30 ist als Version mit 240 V/50-60 Hz oder 110 V/50-60 Hz und mit folgendem zusätzlichem Zubehör erhältlich:
- Referenzfläche
- Videoaufnahmegerät
Produktspezifikationen
| Stromversorgung : | 240 V, 50/60 Hz 110 V, 50/60 Hz |
| Max. Probengröße : | 150 mm (6") ø |
| Oberflächenrauigkeit : | 1 nm bis 300 nm Ra |
| Randabstand : | 2 µm |
| Höhe : | 260 mm |
| Tiefe : | 602 mm |
| Breite : | 430 mm |
| Gewicht : | 24 kg |
Für weitere Informationen über das Produkt oder Logitech füllen Sie bitte unser Kontaktformular aus. Telefonisch erreichen Sie Logitech unter +49 (0) 2154-4860 (Struers GmbH) oder +44 (0)1389 875444 (Logitech Ltd.)
