Haupteigenschaften
- Hochpräzise Planitätsmessung von geschliffenen, geläppten und anpolierten Proben
- 3-dimensionale Abbildungs- und Analysekapazität
- 2µm Streifenabstand mit ausgezeichneter Klarheit
- Messung von Oberflächen mit Rauigkeitswerten von 1 nm bis 300 nm Ra
Beschreibung
Das Messen der Oberflächenplanität ist unentbehrlich für jedes Labor und jeden Betrieb, das/der sich mit der Herstellung von planen Präzisionsbauteilen befasst. Sowohl während Kundenschulungen als auch in der Entwicklung neuer Systeme/Anwendungen müssen wir ständig Planitätsmessungen an den von uns bearbeiteten Materialien vornehmen.
Die Fähigkeit, die Oberflächenplanität geschliffener, geläppter und anpolierter Oberflächen zu messen, ist eine unverzichtbare Anforderung und hat zur Entwicklung dieses Gerätes geführt. Beim GI20 handelt es sich um ein hochpräzises Schräglicht-Interferometer./p>
Es projiziert Laserlicht in einem Winkel, der nahezu horizontal zur Oberfläche der zu testenden Probe ist, wobei das Reflektionsvermögen der Testoberfläche bedeutend verbessert und die Messung nichtreflektierender Oberflächen ermöglicht wird.
Es ermöglicht eine schnelle und einfache "mitlaufende" Messungen und stellt das Interferogramm auf einem 7'' CRT-Schwarzweißbildschirm dar. Der Abstand zwischen den Interferenzstreifen beträgt 2 µm. Dadurch ergeben sich ausgezeichnete Kontrastdarstellungen bei Oberflächengüten von 1 nm bis 300 nm Ra.
Anwendungen
Die Anwendungen des GI20 sind sehr weitreichend. Ganz gleich, ob Planitätsmessungen oder Qualitätsbewertungen erforderlich sind: Schräglichtinterferometer von Logitech bieten eine ausgezeichnete Lösung bei der Bearbeitung von:
- Halbleiterwafern
- Optischen Komponenten
- Bearbeiteten Bauteilen
- Geowissenschaftlichen Proben
Das GI20 ist besonders bei automatisierten Anwendungen vorteilhaft, da Qualitätsbewertungen beschleunigt werden können.
Produktoptionen
Das GI20 ist als Version mit 240 V/50-60 Hz oder 110 V/50-60 Hz und mit folgendem zusätzlichem Zubehör erhältlich:
- Referenzfläche
- Videoaufnahmegerät
Produktspezifikation
| Stromversorgung : | 240 V, 50/60 Hz 110 V, 50/60 Hz |
| Max. Probengröße : | 150 mm (6") ø |
| Oberflächenrauigkeit : | 1 nm bis 300 nm Ra |
| Streifenabstand : | 2 µm |
| Höhe : | 260 mm |
| Tiefe : | 602 mm |
| Breite : | 430 mm |
| Gewicht : | 24 kg |
Für weitere Informationen über das Produkt oder Logitech füllen Sie bitte unser Kontaktformular aus. Telefonisch erreichen Sie Logitech unter +49 (0) 2154-4860 (Struers GmbH) oder +44 (0)1389 875444 (Logitech Ltd.)
