主要特性
- 高精度平整度测量：毛面,研磨后和半抛光样品
- 三维影像分析
- 高清晰度的测量：每个干涉条纹2微米
- 测量表面粗糙度Ra从1纳米到300纳米
Description
GI30是掠入射干涉仪,用于高精度平面测量,适用于研磨后和半抛光表面的测量,样品尺寸可达直径150mm (6").与常规的Fizeau 干涉仪不同,GI30可用于测量非反光表面,能理想的检查抛光之前的研磨过或毛砂表面 .
装在GI30内部的相机将拍摄到的相差图片传输到PC,再通过PC中特殊设计的图形软件建立样品的3D表面图.做为一个掠入射干涉仪,GI30能够测量已减薄或半抛光表面的平整度和平行度.3D影像在很多应用中非常有用，像在过程中需进行质量控制时,用它来检查已减薄或半抛光表面。GI30里使用的Logitech设计的软件具有分析特性,它通过分析工具（如统计、偏差、衍射分析、图象处理等）来解释数据.在处理噪声数据时，这一多样性非常有用。
应用
无论是测量平整度还是进行质量评估,GI30可给以下材料器件的加工处理提供极好的解决办法 :
- 半导体晶片
- 光学器 件
- 车床加工器件
- 地质样品
在需要自动化程度以加速质量评估过程中GI30就特别有用.
产品附件
有以下附件:
- 测试平板
- 影像截取单元
产品规格
| 电源 : | 240V, 50/60Hz |
| 最大样品尺寸 : | 150mm (6")ø |
| 表面粗糙度 : | 1nm to 300nm Ra |
| 条件间距 : | 2µm |
| 高 : | 260mm |
| 长 : | 602mm |
| 宽 : | 430mm |
| 净重 : | 24Kg |
需要更多关于GI30的信息，请至电 +86 (10)62564811，62538157或者填写我们的联系表格.