The GI30 adds enhanced imaging & analysis with surface mapping,data acquisition and colour display 
主要特性
- 高精度平整度测量：毛面,研磨后和半抛光样品
- 高清晰度的测量：每个干涉条纹2微米
- 测量表面粗糙度Ra从1纳米到300纳米
描述
测量粗磨后或半抛光表面的平整度的能力相当重要，这使得Logitech开发了这个仪器。GI20是一个高精度掠入射干涉仪，,样品尺寸可达直径150mm (6").
Logitech的掠入射干涉仪通过一个几乎与样品表面平行的激光入射角大大的加强了测试表面的反射能力和测量非光学表面的能力。.
光学相差图可以直接显示在7英寸黑白CRT屏幕上.
应用
无论是测量平整度还是进行质量评估,GI20可给以下材料器件的加工处理提供极好的解决办法 :
- 半导体晶片
- 光学器 件
- 车床加工器件
- 地质样品
在需要自动化程度以加速质量评估过程中GI20就特别有用.
产品附件
有以下附件:
- 测试平板
- 影像截取单元
产品规格
| 电源 : | 240V, 50/60Hz |
| 最大样品尺寸 : | 150mm (6")ø |
| 表面粗糙度 : | 1nm to 300nm Ra |
| 条件间距 : | 2µm |
| 高 : | 260mm |
| 长 : | 602mm |
| 宽 : | 430mm |
| 净重 : | 24Kg |
需要更多关于GI20的信息，请至电 +86 (10)62564811，62538157或者填写我们的联系表格.